活动简介
The Asian Test Symposium (ATS) provides an open forum for researchers and industrial practitioners from all countries of the world, especially from Asia, to exchange innovative ideas on system, board, and device testing with design, manufacturing and field consideration in mind.
征稿信息
征稿范围
Original papers on, but not limited to, the following areas are invited.
Automatic Test Pattern Generation
Fault Modeling and Simulation
Design Verification and Validation
Diagnosis and Debug
Board and System Test
Analog/Mixed-Signal Test
High-Sp
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重要日期
-
会议日期
11月18日
2013
至11月21日
2013
-
11月21日 2013
注册截止日期
主办单位
国立台湾大学
IEEE Computer Society
IEEE Computer Society
联系方式
- Emma Tseng
- mi******@poetry-life.com
- +88*********
历届会议
-
2024年12月17日 印度 Ahmedabad
The 33rd IEEE Asian Test Symposium (ATS 2024) -
2022年11月21日 台湾-中国 Taichung City
2022 IEEE 31st Asian Test Symposium -
2018年10月15日 中国 Hefei
2018 IEEE 27th Asian Test Symposium -
2017年11月27日 中国 Taipei,China
2017 IEEE 26th Asian Test Symposium -
2016年11月21日 日本 Hiroshima,Japan
2016年第25届IEEE亚洲测试研讨会
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